制御性能の向上を目指すためには、制御器だけの設計では限界があり、 制御対象を制御しやすく設計することが重要である。 そのためには、制御の本質を理解し、達成できる制御性能の 限界を理論的に明らかにすることが必要である。 このような観点から近年、感度関数のゲインに 関するボードの公式の拡張が数多くなされてきた。
本研究では、特に物理制約条件を考慮に入れた実質的な制御性能限界 を理論的に明らかにすることを目指している。特に、H2制御性能限界に 関し、制御入力に制約がある場合と、サンプル値制御の場合に対して、 制御対象の不安定極・零点やゲイン特性で 記述される閉経式の解析解を与えている。