達成可能な制御性能限界


H2追従制御性能限界

 

制御性能の向上を目指すためには、制御器だけの設計では限界があり、制御対象を制御しやすく設計することが重要である。そのためには、制御の本質を理解し、達成できる制御性能の限界を理論的に明らかにすることが必要である。このような観点から近年、感度関数のゲインに関するボードの公式の拡張が数多くなされてきた。

本研究では、特に物理制約条件を考慮に入れた実質的な制御性能限界を理論的に明らかにすることを目指している。特に、H2制御性能限界に関し、制御入力に制約がある場合と、サンプル値制御の場合に対して、制御対象の不安定極・零点やゲイン特性で記述される閉経式の解析解を与えている。